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薄膜厚度测厚仪的原理和标准
时间：2020-05-10 发布：利来国际W66仪器
薄膜厚度测厚仪的原理
将预先处理好的薄型试样的一面置于下测量面上，与下测量面平行且中心对齐的上测量面。
以一定的压力，落到薄型试样的另一面上，同测量头一体的传感器自动检测出上下测量面之间的距离，即为薄型试样的厚度。
薄膜厚度测厚仪的标准
ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、
ISO 3034、ISO 9073-2、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702
中国《药品生产质量管理规范》（GMP）对软件的有关要求（可选配置）
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