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薄膜厚度测厚仪的技术特征
时间：2020-05-10 发布：利来国际W66仪器
薄膜厚度测厚仪的技术特征
济南利来国际W66科技小编此篇文章为大家介绍一下薄膜厚度测厚仪的技术特征。
第一、专业---利来国际W66在不断的创新研发和技术积累中推陈出新，使用超高精度的位移传感器、科学的结构布局及专业的控制技术，实现世界先进的测试稳定性、重复性及精度。
第二、高效---采用高效率、自动化结构设计，有效简化人员参与过程；智能的控制及数据处理功能，为用户提供更便捷可靠的试验操作和结果处理。
第三、智能--搭载了新一代版控制分析软件，具有友好的操作界面、智能的数据处理、严格的人员权限管理和安全的数据存储；支持特有的数据盾系统（可选配置），为用户提供极为安全可靠的测试数据和测试报告管理功能。
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